納米壓痕測試設(shè)備

產(chǎn)品簡介
對小體積樣品材料力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量化測試的關(guān)鍵技術(shù)。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-04-23

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：497

產(chǎn)品咨詢 18117546256

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導(dǎo)體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級瞬態(tài)譜測試橢偏拉曼AFM 半導(dǎo)體多功能測試 CV測試系統(tǒng)集成測試儀器租賃

查看全部產(chǎn)品

共聚焦拉曼光譜儀：一種強(qiáng)大的化學(xué)分析工具，推動科學(xué)發(fā)現(xiàn)與技術(shù)創(chuàng)新

飛秒光纖激光器的應(yīng)用范圍你了解多少呢

光纖光譜儀能夠?qū)崿F(xiàn)對光信號的準(zhǔn)確測量和分析

詳細(xì)介紹在線留言

Features:

測試參數(shù):彈性模量，硬度，屈服強(qiáng)度，儲存和損耗模量，斷裂韌性，劃痕和磨損性能

Capability :

側(cè)向力(劃痕測試模塊)

原子力顯微鏡

有限元分析集成模塊

納米壓痕測試設(shè)備

上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。

上一個：拉曼光譜分析